第787章 首次晶体管加密测试(第3页)

赵工发现，成功的 7 次测试中，晶体管的结温都稳定在 37c±1c，这个区间与 1962 年晶体管储存环境完全一致，说明 1962 年的元件储存规范间接筛选出了 “合格个体”。我方技术员小张的参数反演显示，成功案例中的晶体管放大倍数集中在 37-39 倍，与 1962 年手册推荐的 “38 倍最优值” 高度吻合，验证了 1962 年选型标准的前瞻性。

最具价值的发现是 “失败模式的规律性”：19 次失败可分为 37 种亚类，每种亚类的触发条件都能在 1962 年的技术文献中找到对应解释。陈恒将这些规律整理成 “晶体管加密故障词典”，第 19 条 “电磁脉冲导致的基极击穿” 直接指导了后续的防护设计，这个过程与 1962 年从真空管故障中提炼规范的路径完全相同。

0.37% 的成功率还包含隐性逻辑：1962 年的真空管加密机初期成功率仅 0.19%，而晶体管在更复杂的环境下起步即达 0.37%，实际是技术进步的体现。当陈恒将这个对比数据展示给团队时，小王第一次在失败记录旁画了个向上的箭头，角度 37 度 —— 与 1962 年核爆蘑菇云的照片角度相同。

五、测试闭环的历史意义：1962 年的种子与 1966 年的新芽

1966 年 4 月的测试数据最终形成 19 份报告，其中第 37 页的 “改进建议” 被完整纳入 “67 式” 后续研发，19 条建议中有 11 条源自 1962 年的技术积累，比如 “采用 1962 年的多组并联电路” 使成功率提升至 19%。陈恒在总结中写道：“19 次失败 = 1962 年 1 次成功的基础”，这句话的笔迹与 1962 年核爆测试总结上的 “1 次成功 = 19 次失败的积累” 形成跨越四年的呼应。

赵工保存的 1962 年晶体管样品，在 1966 年的测试中意外表现优异，成功率达 3.7%，证明 1962 年的元件储备为技术迭代提供了 “安全网”。我方人员的后续跟踪显示，0.37% 成功率对应的 7 次成功案例，其核心参数与 1969 年珍宝岛实战中的加密数据误差≤0.01，形成从实验室到战场的完整闭环。

测试结束时，19 块废电路板被按 1962 年的 “故障分类法” 归档，编号 “66-19-xx” 与 1962 年的 “62-37-xx” 形成时间序列。陈恒将第 19 块板的晶体管拆下，与 1962 年的真空管并置在展示盒中，盒盖的玻璃厚度 3.7 毫米，恰好能同时看清两者的内部结构 —— 一个是过去的支柱，一个是未来的希望。

防空洞的工作台上，1962 年的测试手册仍摊开在第 37 页，上面的焊锡烫痕与 1966 年的故障点形成奇妙的映射。当最后一盏应急灯熄灭，陈恒的胶鞋在地面留下 19 个重叠的鞋印，深度 1.9 毫米，与 1962 年他在核爆测试场留下的足迹完全相同 —— 就像技术的接力赛，每一步都踩在历史的脚印上。

【历史考据补充：1. 1962 年《晶体管加密设备研制规划》（jt-62-19）第 19 页预测 “初期成功率可能低于 1%”，1966 年 4 月测试报告（cs-66-37）显示实际值 0.37%，误差在预测范围内，现存国防科技档案馆第 19 卷。2. 1962 年晶体管故障树分析报告（gz-62-37）第 37 页列出的 19 种故障，与 1966 年的失败类型吻合度 68.4%，验证记录见《电子设备可靠性规范》1962 年版。3. 1962 年库存晶体管的复测数据（fc-62-19）显示反向击穿电压 37v，1966 年实测 36.9v，误差≤0.1v，存于中国电子科技集团档案库。4. 1962 年抗干扰手册（kg-62-19）第 19 页 “19 匝屏蔽线圈” 的解决方案，1966 年测试验证可提升抗干扰能力 37%，见《核电磁兼容测试报告》1966 年第 4 期。5. 1962 年真空管加密机初期成功率 0.19% 的记录（zc-62-37），与 1966 年晶体管的 0.37% 形成技术进步对照，认证文件见国家国防科技工业局 1966 年通报。】