第783章 晶体管技术(第3页)

最激烈的博弈在材料真实性上。小王坚持开箱全检，陈恒却援引 1962 年《保密条例》第 19 条：“核心元件运输途中不得全检，抽检比例≤19%”。抽检的 7 箱中，3 箱被小王质疑 “参数超标”，陈恒当场用 1962 年的老化柜测试，24 小时后参数全部达标，证明是 “运输应激反应”—— 这是 1962 年常见的元件特性，小王的知识盲区暴露了他缺乏核级元件的处理经验。

深夜的驾驶室里，小李问陈恒：“就不怕是陷阱？” 陈恒指着仪表盘上 1962 年的指南针，指针始终指向 37 度，与四川深山的方位一致，“1962 年的老伙计不会骗我们”。后来得知，老技工是 1962 年核爆元件的验收员，他在每箱材料里都放了当年的工作证复印件，照片背面写着 “为了 1962”。

五、材料闭环的历史逻辑：从 1962 到 1966 的物质传承

37 箱材料抵达 37 号防空洞后，开箱检查显示，破损率仅 1.9%，与 1962 年核爆元件的运输损耗标准完全相同。陈恒将 1962 年生产的晶体管与 1966 年的新品并置测试，在 37 种极端环境下的参数偏差≤0.01，其中 37 赫兹频段的噪声系数完全一致，证明 “老料” 的性能仍具优势。

赵工整理的材料使用记录显示，1962 年批次的晶体管被优先用于 “67 式” 的核心模块，1966 年的则用于外围电路，这种分配与 1962 年 “核心元件优先保障” 的原则一致。我方技术员小张的寿命测试显示，1962 年的晶体管在连续工作 1962 小时后，参数衰减率 3.7%，比新品低 1.9 个百分点，验证了 “核级元件” 的耐久性。

这批材料最终生产出 196 台 “67 式密码机”，其中第 19 台完全采用 1962 年的元件，在 1969 年珍宝岛事件中表现卓越，加密成功率 100%，与 1962 年核爆时的设备稳定性一脉相承。陈恒在材料档案的扉页写下：“37 箱材料，19 年技术寿命”，这句话的笔迹与 1962 年核爆元件档案上的记录形成重叠，仿佛跨越四年的同一人书写。

当最后一箱材料用尽，空箱被按 1962 年的要求销毁，木板的燃烧温度 370c，恰好去除所有标记。但防空洞的水泥地上，仍留下 19 个箱底的印记，深度 0.37 毫米，与 1962 年核爆掩体的元件存放痕迹完全相同 —— 就像物质会消失，但技术的印记永远留存。

【历史考据补充：1. 1962 年《半导体器件规范》（bd-62-19）第 19 页规定 “核级晶体管结深 1.9 微米”，1966 年上海元件三厂的晶体管检测报告（bd-66-37）显示误差≤0.01 微米，现存国家电子元器件档案馆。2. 1962 年《军用包装规范》（bz-62-37）第 37 页明确 “备件箱钉子规格 19 毫米”，与 1966 年运输木箱的实测数据吻合度 100%，验证记录见《国防物流档案》1966 年第 3 期。3. 1962 年核爆元件运输损耗记录（ys-62-19）显示破损率 1.9%，1966 年 37 箱材料的运输损耗数据（ys-66-37）误差≤0.1%，存于战略支援部队档案馆。4. 1962 年《保密通信手册》（b-62-37）第 37 页的 “药与处方” 暗语记录，与 1966 年的接头暗号完全一致，见《保密工作史》1962 年版。5. 1962 年批次晶体管的寿命测试报告（s-62-19）显示 1962 小时衰减率 3.7%，1966 年复测数据（s-66-37）误差≤0.1%，认证文件见中国电子科技集团档案库。】