第784章 第一台原型机的诞生(第2页)
最关键的筛选指标藏在抗辐射性能里。1962 年钴 60 辐射测试显示，这批电阻在 1962 拉德剂量下（核爆中心 3 公里处的辐射量）阻值变化≤1.9%；1966 年复测时，变化率升至 2.0%，仍在 “≤2.5%” 的安全阈值内。陈恒摩挲着测试报告上的曲线，忽然想起 1962 年总师的话：“核级元件的每一个参数，都是用最坏情况算出来的。”
二、验证电路的搭建密码：复刻 1962 年的拓扑结构
验证电路的核心模块，完整复刻 1962 年核爆加密机的电阻网络：37 只精密电阻构成 “π 型滤波电路”，每级由 1 只 150Ω 限流电阻与 2 只 370Ω 分压电阻组成，19 个测试点的阻抗值与当年电路误差≤0.1Ω。陈恒特意保留了 1962 年设计的一处 “缺陷”—— 第 7 级滤波电阻的温度系数略高（25pp\/c），以此验证新算法的补偿效果。这种 “带着问题测试” 的思路，源自 1962 年核爆前的教训：“暴露的隐患，比隐藏的故障更安全。”
赵工的焊接工艺透着 1962 年的严谨：采用 “梅花形” 焊盘设计（直径 1.9 毫米），每点焊锡用量精确至 0.37 克（用 1962 年的微量天平称量），焊点高度≤0.37 毫米。他发现 1962 年的覆铜板抗氧化层厚度达 0.37 微米，是 1966 年民用板的 2 倍，在防空洞 91% 的湿度环境下，腐蚀速度仅为新品的 1\/19。“老东西的皮实，藏在看不见的地方。” 赵工边说边用 1962 年的银漆标注焊点，漆层厚度 0.19 毫米，恰好覆盖铜箔边缘的氧化痕迹。
我方技术员小李的布线图严格遵循 1962 年《军用电路布线规范》第 37 页：导线长度控制在 19 毫米的整数倍（最短路径原则），转角处留 1.9 毫米圆弧（避免信号反射）。用 1962 年的线号机标记时，“67-19-37” 的新编号恰好覆盖电路板上 “62-37-19” 的旧编号，形成 “1962→1966” 的时间暗码。小李忽然发现，电路板边缘的钻孔间距 37 毫米，与 1962 年核爆设备的安装孔完全匹配，“就像特意为今天的测试预留的”。
电源模块的设计更见传承：沿用 1962 年的 “37v 稳压电路” 拓扑，仅将调整管从真空管换成晶体管，取样电阻仍用 1962 年的 150Ω 精密电阻。测试显示，当输入电压波动 ±37%（模拟野外发电机供电），输出电压变化量≤1.9%，与 1962 年应急供电要求完全吻合。陈恒调试时感慨：“电路拓扑就像语言语法，变的是词汇，不变的是逻辑。”
三、测试过程的历史对照：1962 年的故障树重演
验证电路的首次加电测试，完整复现了 1962 年核爆电路的 19 项关键测试：37c高温连续运行（模拟夏季山洞环境）、1900v 浪涌冲击（模拟雷电干扰）、-37c低温启动（模拟高原作战）…… 其中 “核爆电磁脉冲模拟” 最具挑战性：用 1962 年的脉冲发生器输出 37 纳秒 \/ 3700v 的尖峰信号，示波器显示波形峰值与当年记录误差≤0.1v。
赵工的故障排查过程与 1962 年维修日志形成奇妙呼应：第 19 次测试时，“密钥生成错误” 反复出现，溯源发现是第 19 列某电阻的焊点虚接（氧化层导致接触电阻超标）。他按 1962 年的标准操作：用 1962 年的助焊剂（含 37% 松香）重新焊接，焊点温度控制在 190c±5c（用红外测温仪监测），故障立即消除。这种复刻式维修，让年轻工程师小王第一次相信：“1962 年的手册里，真的藏着答案。”
最严苛的 “连续运行测试” 持续 196 小时（相当于实战 8 天）：电路以 37% 负载（模拟中等通信量）运行，电阻温升稳定在 19c，与 1962 年的测试结果误差≤1c。陈恒用 1962 年的红外测温仪检测，第 7 列电阻表面温度 45c，比设计临界值（50c）低 5c，其中 1962 年生产的电阻比 1966 年新品平均低 1.9c，散热优势显着。“老碳膜的热稳定性，是新工艺比不了的。” 赵工的烟袋锅在工作台磕出轻响，频率 37 赫兹，与电阻的热噪声频率形成共振。
测试数据的记录格式严格复刻 1962 年的 “三栏式”：实测值、理论值、偏差率，字迹用 1962 年的蓝黑墨水（含 19% 铁盐）书写，Lab 色值（37,19,19）与当年核爆测试记录完全一致。陈恒在第 37 页总结：“1962 年的电阻通过了 1966 年的所有测试，这不是巧合，是必然。”
四、心理博弈的技术投射：新旧理念的碰撞
电路搭建初期，小王就提出用 1966 年的精密电阻替换库存品：“新品参数离散度 0.37%，比老电阻低 1.5 个百分点！” 他的测试报告里，19 只新品在常规环境下的加密成功率比老电阻高 3.7%。陈恒却组织了一场盲测：将 19 只老电阻与 19 只新品混编，在 37 种极端环境（含核辐射、强电磁干扰）下测试。结果显示，老电阻的通过率比新品高 19%，尤其在核辐射环境下优势达 37%——1962 年的冗余设计在此刻显现价值。